Технология, позволяющая регулировать толщину среза 3D- или 4D-изображений, а также добиваться высокого контрастного разрешения в сочетании с различными режимами сканирования. Может применяться в B-режиме (VCI-A), при исследовании статичных 3D-изображений или в сочетании с технологией OmniView.